什么是红外线测量厚度和涂布量?解释非接触测量原理和测量点

利用红外线的光学变化

当红外线照射到物体上时，根据物质的类型和数量，会发生吸收、反射和透射等光学变化。测量这些变化可以提供关于物体数量的信息。

有一种方法可以非接触测量厚度

不直接接触对象物就能进行测量的方式，可以在不损伤材料的情况下进行测量。特别是，它可用于测量在生产线上移动的材料，如纸张和薄膜。

涂布量也是测量对象

在将另一种材料应用于基材表面的过程中，您可能需要控制应用的材料量。利用与红外线的交互作用，可以非接触方式测量涂布量信息。

利用与目标物质特有的红外线的相互作用

由于不同物质与红外线的相互作用不同，因此使用适合于目标物质的波长可以提供有关其丰度的信息。

光学响应随物质的量而变化

即使使用相同的材料，如果存在的量或厚度改变，红外线的吸收和检测到的光的状态也会改变。使用此变化确定与厚度的关系。

我们不直接测量厚度本身

传感器直接检测的是红外线的强度和吸收等光学信息。通过确认那个信息和实际厚度的关系，作为测量值求出厚度。

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即使材料相同，厚度和涂布量也不相同

由于涂布量还与材料的密度等有关，因此即使厚度相同，如果材料不同，质量也会发生变化。因此，需要区别管理厚度和涂布量。

明确您想要管理的内容

在考虑制造过程中的测量方法时，请明确“您是否想要管理层的厚度”和“您是否想要管理单位面积的涂布量”。

测量作为基准的厚度和涂布量

首先，对于对象材料，用其他方法测量实际厚度和涂布量。这是确认与光学测量值的关系的基准。

使光学信号与基准值相对应

对于厚度和涂布量不同的试料，使红外线光学测量值与基准厚度和涂布量相对应。

利用标准曲线换算成测量值

将光学测量值与实际厚度、涂布量之间的关系用公式、图表等表示出来，作为标准曲线使用。在实际测量中，根据这个关系求出厚度和涂布量。

特别是对于涂布量，除了要测量的涂层外，基材的状态可能与测量结果有关。在确认对象物整体构成的基础上，研究测量条件很重要。

您可以测量要移动的纸张和胶片

如果难以使传感器与在生产线上移动的材料接触，则非接触测量可帮助您在不停止材料的情况下进行测量。

可以在不伤害物体的情况下测量

接触式测量需要与对象接触，而非接触式测量可以在不直接接触测量对象的情况下进行。对于不想损伤表面的材料，非接触测量可能是一个有效的选择。

连续把握厚度、涂布量的变化

通过在工序中连续测量，可以了解厚度和涂布量随时间的变化。

将测定结果用于工程管理

通过记录测量值并将其与工艺条件和质量结果相结合，可将其用作了解材料偏差和工艺变化的信息。

测量什么材料

查看材料类型、组成和形状。

是材料本身的厚度还是涂层?

明确是测量材料本身的厚度，还是测量涂在基材上的层的厚度和量。

基材是什么?

测量涂布量时，还要确认被涂布的基材的材质、表面状态、厚度等。

测量的范围是多少?

确认所需的厚度和涂布量的范围，以及在该范围内所需的测量精度等。

线速度和测量位置如何?

在生产线上测量时，要确认对象物的移动、振动、曲折、测量位置等。

如何计算标准值

根据光学测量值计算厚度和涂布量时，请确定如何测量作为比较基准的厚度和涂布量。

测量数据的用途

明确测量结果的用途，包括质量确认、记录、监视、工序条件确认等。