IR-CZ 系列是一款集成式固定式红外温度仪,配备数字温度显示和测量值外部输出。
可在900°C~3500°C的测量范围内高精度测量2000°C以上的超高温区域。通过更新光学系统和电路板实现长期稳定性。带有窗户污垢检测功能,便于通过真空炉等窗户进行测量。
机型 | 高温用 |
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形式 | IR-CZH |
检测元件 | Si/InGaAs |
测量波长 | 0.9/1.55μm |
测量温度范围 | 900~3500℃ 200、300 带小光圈φ10 |
精度额定 | 1000℃以下:±5℃ 1000℃以上且低于1500℃:测量值的±0.5% 1500℃以上且低于2500℃:测量值的±0.6% 2500℃以上:测量值的±1% |
重复性 | 0.5°C以内 |
分辨力 | 0.5℃ |
响应时间 | 2~15ms |
测量直径/测量距离 | 可移动焦点: 测量距离:0.5m~∞ 测量直径=测量距离/距离系数 距离系数:200、300 |
瞄准 | 直接取景器或激光照明(选件) |
输出信号 | 4~20mA DC,隔离输出 (不可电阻750Ω以下) |
通信接口 | RS-485 |
电源 | 24V DC |
功耗 | 最高2.4VA |
外部尺寸 | W177xH72xD62mm |
质量 | 約0.8kg |
IR-CZ 是红外温度仪可用于广泛的领域。我们的产品种类丰富,从高温低速型到中温高速型,还有世界最高级别的双色红外温度仪。
IR-CZH/IR-CZI/IR-CZK/IR-CZP/IR-CZQ/IR-CZS
这是 Chino红外温度仪的产品选择指南。
我们提供与半导体前端工艺中的“温度测量和控制”相关的产品,以及结合这些产品的系统方案。
我们将介绍“拉晶”、“晶圆抛光/氧化”、“蚀刻”、“成膜”等工序的温度测量与控制相关解决方案,以及“超导”、“人造金刚石”、“热成像”等工艺。可承受高达 150°C 的温度”。
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